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雷射检测

雷射检测

雷射检测技术套用十分广泛,如雷射干涉测长、雷射测距、雷射测振、雷射测速、雷射散斑测量、雷射準直、雷射全息、雷射扫描、雷射跟蹤、雷射光谱分析等都显示了雷射测量的巨大优越性。雷射外差干涉是纳米测量的重要技术。雷射测量是一种接触式测量,不影响被测物体运动,精度高、测量範围大、检测时间短,具有很高空间解析度。

基本介绍

中文:雷射检测技术外文名:Laser detection technology套用:雷射干涉测长、雷射测距等原理:雷射测距原理、雷射测位移原理特点:非接触式测量优势:精度高、测量範围大、检测时间短

测距原理

先由雷射二极体对準目标发射雷射脉冲。经目标反射后雷射向各方向散射。部分散射光返回到感测器接收器,被光学系统接收后成像到雪崩光电二极体上。雪崩光电二极体是一种内部具有放大功能的光学感测器,因此它能检测极其微弱的光信号记录处理从光脉冲发出到返回被接收所经历的时间,即可测定目标距离。  雷射感测器必须极其精确地测定传输时间,因为光速太快。如,光速约为3X10^8m/s,要想使解析度达到1mm,则测距感测器的电子电路必须能分辨出以下极短的时间:  0.001m(3X10^8m/s)=3ps  要分辨出3ps的时间,这是对电子技术提出的过高要求,实现起来造价太高。但是如今的雷射感测器巧妙地避开了这一障碍,利用一种简单统计学原理,即平均法则实现了1mm的解析度,并且能保证回响速度。远距离雷射测距仪在工作时向目标射出一束很细的雷射,由光电元件接收目标反射的雷射束,计时器测定雷射束从发射到接收的时间,计算出从观测者到目标的距离;LED白光测速仪成像在仪表内部积体电路晶片CCD上,CCD晶片性能稳定,工作寿命长,且基本不受工作环境温度的影响。因此,LED白光测速仪测量精度有保证,性能稳定可靠

测位移原理

雷射发射器通过镜头将可见红色雷射射向被测物体表面,经物体反射的雷射通过接收器镜头,被内部的CCD线性相机接收,根据不同的距离,CCD线性相机可以在不同的角度下“看见”这个光点。根据这个角度及已知的雷射和相机之间的距离,数位讯号处理器就能计算出感测器和被测物体之间的距离。  同时,光束在接收元件的位置通过模拟数字电路处理,并通过微处理器分析,计算出相应的输出值,并在用户设定的模拟量视窗内,按比例输出标準数据信号。如果使用开关量输出,则在设定的视窗内导通,视窗之外截止。另外,模拟量与开关量输出可独立设定检测视窗。

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