光量计

简介

光量计是原子发射光谱仪的一种，是用于分析固体金属样品的多通道光电光谱仪。由于它使用光子计数器测量各通道的发光强度，故叫光量计。

光量计採用凹面光栅分光系统，使用火花光源。

低压火花光源利用气隙的火花放电获得电浆，其工作原理如下图所示。放电迴路採用低电压（200～100 V），大电容（数十微法）来获得大的放电能量。通过改变电容、电感等参数，可以得到从电弧到火花各种性质的放电。它能将固体金属样品直接气化并形成电浆。

低压火花光源

固体样品的製备较容易，对一些样品只需磨平即可。

光量计的分光系统和检测系统与上述的ICP光谱仪基本相同。

光量计原理及 结构

光量计（quantometer）是原子发射光谱仪的一种，又名光电光谱仪。它是用于分析固体金属试样的多通道光电光谱仪。由于它曾使用光子计数器来测量发光强度，因而也称为光量计。其原理见下图。

由下图可以看出，光量计由火花光源、凹面光栅分光器及光电测量装置及数据处理和控制装置四部分构成。

光量计原理图

激发光源

光量计使用的光源有：低压火花、直流电弧、断续电弧、空心阴极光源、辉光放电光源等多种。但用得最多的还是低压火花光源。这类光源在商品仪器中使用的名称繁多，如凝聚电弧（condenser arc），凝聚火花（condenser spark），电容放电（condenser），低压火花（low voltage spark）和中压火花等。虽然名称不同，但其放电迴路却大致相同。

放电参数的选择与分析对象有关：

a.增加放电电压时，放电的火花性质增强，有利于难激发元素C、S、P的激发。

b.电容量减少时，单位时间的取样量少，减少谱线的自吸收，有利于扩大标準曲线的线性範围，对测量高含量试样有利。

分光系统及测光系统

光量计的分光系统与其他发射光仪基本相同。光量计的光学系统应满足光谱範围的基本要求，且必须有足够的色散率、分辨本领。其色散率一般在0.4～0.8nm/mm 之间，由于凹面光栅光学系统元件少，线色散率高，多数用它作为多色仪。通常焦距是0.75m～1.0m。光栅密度为12009/mm～24009/mm。

测光系统主要用光电信增管，测量方式有三种：

（1）直接测量光电流；

（2）全积分法；

（3）脉冲高度分布分析法（pluse height distribution analysis method），这是一种具有较高精度的测光技术（简称PDA测光技术）。

典型光量计简介

典型光量计列于下表。

典型光量计

还有一种移动式光电光谱仪，它是用手持式火花取样器，用5~10m光缆接到分光器上，携带型计算机控制及计算。这种仪器用于料场、仓库现场分析。

光量计

基本 介绍

简介

光量计原理及 结构

激发光源

分光系统及测光系统

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